WeifangHAST magas nyomású gyorsított öregedés teszt:A Highly Accelerated Stress Test Chamber gyorsított öregedési vizsgálatokat végez a chip magas hőmérsékletében, nedves és magas nyomású környezetében, hogy a legrövidebb időn belül ellenőrizze a chip megbízhatóságát és élettartamát, és ezáltal javítsa a termék minőségét és megbízhatóságát.

► Az iparág első nyomás akár 4kg teszt tartomány,

► Automatikus doboz ajtó tervezés, gomb vezérlő doboz ajtó megnyitása, saját nyomásvédelem,

Beépített PID vezérlő algoritmus biztosítja a hőmérséklet, a páratartalom és a nyomás pontosságát,

► Kompatibilis állandó nedves hő (HAST) és magas nyomású gőzés (PCT) vizsgálatával telítetlen magas nyomású gőzzel,

Megfelel a vizsgálati szabványoknak：

AEC Q101 (jármű-szintű chip)

JIS C0096-2

GB/T2423.40-1997 Elektromos és elektronikus termékek környezeti vizsgálata 2. rész: Cx vizsgálati módszer: a telítetlen magasnyomású gőz állandó nedves hője

IEC60068-2-66-1994 Környezetvédelmi vizsgálatok 2-66. rész: Kísérleti módszerek. Cx vizsgálat: stabil állapotú nedves hő

JESD22-A100 ciklusok hőmérséklet- és páratartalom-eltérési élettartama

JESD22-A101 Stabil állapotú hőmérséklet, páratartalom / eltérés, élettartam teszt (hőmérséklet, páratartalom és eltérés élettartam)

JESD22-A102 magas nyomású gőzölési teszt (gyorsított nedvességgátló áthatolás)

JESD22-A108 Hőmérséklet, eltérés és élettartam

JESD22-A110 HAST nagy gyorsítású hőmérséklet-páratartalom feszültségvizsgálat

JESD22-A118 Hőmérséklet, páratartalom, eltérés nélküli nagy feszültségű feszültségi kísérlet UHAST (eltérés nélküli feszültségű telített nagy feszültségű gőz)

* testreszabható bármely specifikációs paraméter nem szabványos modell