TEM, SEM és LM mintakészítés

A Leica EM RES102 egy egyedülálló ioncsillag csillagási berendezés, amely két nyeregmező ionforrással rendelkezik, és az ioncsillag energiája beállítható a legjobb ioncsillagási eredmény érdekében.

Ez a különálló asztali készülék TEM, SEM és LM mintakezelési funkciókat tartalmaz, ami teljesen eltér a piacon lévő többi készüléktől. A nagy energiájú ioncsiszolás mellett

A funkciókon kívül a Leica EM RES102 alacsony energiájú, rendkívül enyhe ioncsillag-csillagási folyamatokban is használható.

› Az egyoldalú vagy kétoldalú ioncsillag-csillagás alkalmazható az anyagok ioncsillag-vékonítási folyamatához. A nyeregmező ionforrás nagy átlátszó vékony zónákat kaphat.

A programozott vezérlő ion beadási szögváltozások speciális mintakészítési célokra, például a FIB mintakisztításra alkalmasak, hogy csökkentsék az amorfol nem kristályos rétegeket.

› A maximális csiszolási terület 25 mm-es.

› Az ionsugár tisztítása a minta felületének szennyező rétegeinek vagy a mechanikai csiszolás után keletkező felületek alkalmazási rétegeinek tisztítására alkalmas.

› Minta felületi bélés erősítő hatása, amely a kémiai gravírozás hatását helyettesítheti.

› A 35°-os lejtővágás több rétegű minta vágásához használható.

A 90°-os lejtővágás felvezetőminták vagy összeszerelési eszközök kompozit szerkezetek előkészítéséhez használható, így a minimális mechanikai előfeldolgozási munka szükséges.

- Az Ön választása.

A különböző alkalmazások igényeinek támogatása érdekében a Leica EM RES102 különböző mintasztalokat szerelhet össze TEM, SEM és LM mintakezeléshez. Előzetes szoba

A rendszer gyors mintacserét tesz lehetővé, ami hatékonyan növeli a mintacseré hatékonyságát.

Ez a mintasztal SEM- és LM-minták ionikus csillag tisztításához, csiszolásához és bélés erősítéséhez alkalmas, és környezeti hőmérsékleten vagy LN2 hűtési körülmények között használható. SEM mintasztal

A minták maximális mérete 25 mm. Az adapter a 3,1 mm átmérőjű tűkkel rendelkező, kereskedelmi gyártásban használt SEM mintaló felvételére szolgál.

A lejtős mintavágási asztal a minta hosszú (90°) vagy lejtős (35°) vágására alkalmas, így a SEM könnyedén megfigyelheti a minta belső hosszú szerkezetét, és környezeti hőmérsékleten vagy LN2 hűtési körülmények között használható. SEM clamp holder to hold small sampleswith maximal dimensions of 5(H) x 7(W) x2(T)mm.This holder can be easily transferredto the SEM without removing the sample.TEM Sample Holder (Quick ClampHolder)for single and double-sided low angle millingdown to 4 °.

A vékony mintasztal a maximális méret 5 (H) × 7 (W) × 2 (D) mm-es mintát tartja. A mintasztal könnyen áthelyezhető közvetlenül a SEM-be mintavétel nélkül

Termékek.

A TEM mintakörök egyoldalú vagy kétoldalú ionsugár vékonítására szolgálnak, a vékonítási szög akár 4°-ig is alacsony.

A TEM fagyasztott mintakörök az LN2 hűtőberendezéssel együttműködnek a hőmérséklet-érzékeny minták előkészítéséhez.

A FIB tisztító mintasztal a FIB minták tisztítására szolgál, csökkentve a felületi morfol nem kristályos rétegeket.

A Leica EM RES102 a minták ionsugárzásának vékonítására, tisztítására, vágására, csiszolására és bélésének javítására alkalmas, ami nagymértékben kielégíti az alkalmazás változatosságát és kényelmét.

19" érintőképernyős számítógépes vezérlőegység a mintavételi folyamat felügyeletére és rögzítésére

› Beépített alkalmazási paraméterek könyvtára

› Programozható mintázati paraméterek beállítása a kezdők tanulási görbéjének felgyorsítása érdekében

› Segítségfájlok Segítség a kezdőknek és az eszközök karbantartásához

Hatékonyság/költségmegtakarítás

› TEM, SEM és LM alkalmazások

› TEM minta előkészítés kapott vékony terület nagy, hatékonyan javítja a TEM minta előkészítés hatékonyságát

SEM minta előkészítése legfeljebb 25 mm minta átmérővel

› Az előszivattyú szoba rendszere segít a gyors mintacserén, csökkenti a várakozási időt, és biztosítja a folyamatos nagy vákuumot a szobában

› A helyi hálózat funkciója könnyű távirányítás

› Az LN2 mintasztal lehetővé teszi a hőmérséklet-érzékeny minták ionizálását optimalizált körülmények között

Biztonsági

› Pontos automatikus befejezés optikai befejezéshez vagy átlátszó minták Faraday-csésze befejezéséhez

› Élő képek vagy videók tárolása a mintavétel során

› Ionforrás és minta mozgási motorhajtás, programozott vezérlés, így ismétlődő mintavételi eredmények